日本santec可變波長(zhǎng)光學(xué)元件掃描測(cè)試系統(tǒng)

產(chǎn)品型號(hào)：

所屬分類(lèi)：光源

產(chǎn)品時(shí)間：2024-09-07

簡(jiǎn)要描述：日本santec可變波長(zhǎng)光學(xué)元件掃描測(cè)試系統(tǒng)
通過(guò)結(jié)合可變波長(zhǎng)光源（TSL系列），功率計(jì)（MPM），偏振控制單元（PCU-100）和定制軟件，在研發(fā)和生產(chǎn)線(xiàn)上對(duì)IL / WDL / PDL進(jìn)行有效的測(cè)量和評(píng)估你能行的。

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詳細(xì)說(shuō)明：

日本santec可變波長(zhǎng)光學(xué)元件掃描測(cè)試系統(tǒng)

掃頻測(cè)試系統(tǒng)

通過(guò)結(jié)合可變波長(zhǎng)光源（TSL系列），功率計(jì)（MPM），偏振控制單元（PCU-100）和定制軟件，在研發(fā)和生產(chǎn)線(xiàn)上對(duì)IL / WDL / PDL進(jìn)行有效的測(cè)量和評(píng)估你能行的。

多站測(cè)量

通過(guò)將掃頻測(cè)試系統(tǒng)與多分支單元相結(jié)合，可以進(jìn)一步提高檢查和評(píng)估的效率。

總覽

掃頻測(cè)試系統(tǒng)結(jié)合了可變波長(zhǎng)光源（TSL系列），多端口功率計(jì)（MPM系列），偏振控制單元（PCU-100）和軟件，是光學(xué)設(shè)備和生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)研發(fā)的理想選擇。這是一個(gè)評(píng)估工具。通過(guò)實(shí)時(shí)參考可變波長(zhǎng)光源的輸出功率同時(shí)獲取通過(guò)DUT傳輸?shù)墓夤β?，可以高精度地測(cè)量IL / WDL / PDL。該系統(tǒng)使用穆勒矩陣方法來(lái)計(jì)算PDL。

特性

實(shí)時(shí)電源參考
高精度的IL / WDL / PDL特性測(cè)量-
高IL重現(xiàn)性<±0.02
dB-高PDL重現(xiàn)性±0.01 dB
縮放算法-
具有高波長(zhǎng)分辨率和波長(zhǎng)精度
的測(cè)量-減少測(cè)量時(shí)間
可以進(jìn)行多通道測(cè)量
圖形用戶(hù)界面和DLL支持（Visual Studio）-
易于設(shè)置測(cè)量參數(shù)-
數(shù)據(jù)分析

WDL（與波長(zhǎng)有關(guān)的損耗）測(cè)量

80 dB或更高的高動(dòng)態(tài)范圍測(cè)量

我們的可變波長(zhǎng)光源TSL系列配備了具有創(chuàng)新設(shè)計(jì)的諧振器，可減少ASE光學(xué)噪聲，同時(shí)實(shí)現(xiàn)很高的信噪比和很高的光學(xué)輸出功率。因此，該系統(tǒng)可以同時(shí)評(píng)估具有高動(dòng)態(tài)范圍特性的光學(xué)組件的多個(gè)端口的特性。
下圖分別顯示了CWDM濾波器和陷波濾波器（例如FBG）的測(cè)量數(shù)據(jù)。

波長(zhǎng)精度高+/- 3 pm

由于TSL系列標(biāo)配了波長(zhǎng)監(jiān)視器，因此可以高精度地測(cè)量光學(xué)組件。
下圖顯示了乙炔（12C2H2）氣體吸收線(xiàn)的測(cè)量波長(zhǎng)，可以看出以*的測(cè)量精度可以進(jìn)行測(cè)量。

波長(zhǎng)分辨率低于0.1 pm

該系統(tǒng)不僅可以用于WDM的光學(xué)組件，而且可以用于窄線(xiàn)寬濾光片，以高波長(zhǎng)分辨率測(cè)量WDL和PDL。
該圖是超高Q容量設(shè)備的測(cè)量結(jié)果，您可以看到它可以以0.1 pm或更小的分辨率進(jìn)行測(cè)量。

運(yùn)用

光學(xué)組件，模塊評(píng)估-
波長(zhǎng)選擇開(kāi)關(guān)（WSS），AWG，波長(zhǎng)阻擋器-
波長(zhǎng)可變?yōu)V波器，交織器，F(xiàn)BG，耦合器，隔離器，光學(xué)開(kāi)關(guān)
-DWDM組件
光子器件/微腔諧振器評(píng)估
光譜測(cè)量

配置示例

1. PDL（極化相關(guān)損耗）測(cè)量

- 可變波長(zhǎng)光源TSL-710 / TSL-550
- 偏光控制器PCU-100
- 光功率計(jì)MPM-210

2. WDL（波長(zhǎng)相關(guān)損耗）測(cè)量 ??

可變波長(zhǎng)光源TSL-710 / TSL-550
光功率計(jì)MPM-210

3. WDL（波長(zhǎng)相關(guān)損耗）測(cè)量（其他公司的功率計(jì)）

可變波長(zhǎng)光源TSL-710 / TSL-550
掃頻處理單元SPU-100
光功率計(jì)（需要記錄功能）
示例）Keysight 816 x A / B，774 x A功率計(jì)
光電探測(cè)器+ DAQ

日本santec可變波長(zhǎng)光學(xué)元件掃描測(cè)試系統(tǒng)

多站點(diǎn)檢測(cè)

在多站測(cè)量系統(tǒng)中，可變波長(zhǎng)光源，偏振控制器和多分支單元用作服務(wù)器，并且光和觸發(fā)信號(hào)從它們分支并發(fā)送到每個(gè)站。每個(gè)站僅包含一個(gè)功率計(jì)和一臺(tái)PC。

在測(cè)量期間，服務(wù)器的可變波長(zhǎng)光源連續(xù)掃描預(yù)定范圍。因此，每個(gè)站可以隨時(shí)獨(dú)立于其他站進(jìn)行測(cè)量。

這樣，該系統(tǒng)可以在保持高精度特性的同時(shí)進(jìn)一步提高檢查和評(píng)估的效率。