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液晶面板表面缺陷及檢測(cè)應(yīng)用分析

發(fā)布時(shí)間:2023-08-25 點(diǎn)擊量:571

液晶面板表面缺陷及檢測(cè)應(yīng)用分析

薄膜顯晶體管液晶顯示器(TFT-LCD)具有高分辨率和功耗低等優(yōu)點(diǎn),因此被廣泛應(yīng)用于顯示器行業(yè)。
但是顯示屏的生產(chǎn)過程流程多、環(huán)境等因素,難以避免會(huì)出現(xiàn)缺陷顯示屏,導(dǎo)致產(chǎn)品不良率較高。TFT-LCD顯示屏的制作包括鍍膜、刻蝕、顯影、面板組合、灌晶封口和安裝驅(qū)動(dòng)芯片等工藝,復(fù)雜的工序?qū)е氯毕莸某霈F(xiàn),常見的缺陷包括點(diǎn)缺陷,線缺陷和Mura缺陷。

“Mura"一詞來源于日語,譯為斑點(diǎn)、臟污,也被稱為“云斑",是顯示缺陷中最難檢測(cè)的缺陷之一。傳統(tǒng)的Mura檢測(cè)方法是通過人工視覺檢查的方式實(shí)現(xiàn)的,主要采用裸眼辨別的方法。此方法效率低下,并且容易造成視覺疲勞,從而導(dǎo)致結(jié)果正確率降低。

基于機(jī)器視覺的液晶面板檢測(cè),可實(shí)現(xiàn)對(duì)液晶面板的各個(gè)生產(chǎn)工藝產(chǎn)生的缺陷進(jìn)行檢測(cè),包括Array(陣列)工藝,CF(彩膜)工藝,CELL(成盒)工藝,Module(模組)工藝,可實(shí)現(xiàn)對(duì)crack(裂紋),broken(破損),chip(崩邊),scratch(劃痕),burr(毛刺),drop(水滴)等缺陷的有效檢測(cè)區(qū)分。

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日本sena鹵素表面檢查燈185le

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日本sena lamp高照度鹵素強(qiáng)光燈185LE屏幕面板檢查燈

高照度照明設(shè)備(表面檢查燈)185LE是目視檢查晶圓、鏡頭、玻璃基板的表面等為目的的光源。

適合于TFT面板、CF(彩色濾光片),觸摸屏制造等行業(yè)。

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