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適合評估光學(xué)元件的多端口光功率計(jì)介紹
多端口光器件光學(xué)特性的高速測量
可進(jìn)行高速測量(每個端口最多 100 萬個記錄點(diǎn))
一臺設(shè)備最多可測量20個端口(可同時使用多臺設(shè)備)
功率計(jì)模塊 (MPM-211 / 212/215)
電流表模塊 (MPM-213)
概述
MPM-210H 非常適合對多端口光學(xué)組件(例如波長選擇開關(guān) (WSS) 和 AWG 模塊)進(jìn)行插入損耗和 WDL/PDL 測量。通過與配備功率監(jiān)視器輸出的可調(diào)光源(TSL 系列)組合,可以實(shí)時消除光源的光輸出波動,并進(jìn)行高精度的損耗測量。
有關(guān)光學(xué)表征系統(tǒng)的更多信息,請參閱掃描測試系統(tǒng) 。
特征
高速測量
每個
端口最多可進(jìn)行 100 萬點(diǎn)的記錄采樣 每個端口配備兩個存儲器,即使在記錄期間也可以讀取
最高 100 kHz 的高速采樣是可能的
高動態(tài)范圍
-80 ~ + 10dBm (MPM-211 / 212)
-70 ~ + 5dBm (MPM-215)
高動態(tài)范圍(在記錄模式下)
50dB / 掃描 (MPM-211 / 212)
70dB / 掃描 (MPM-215)
電流表模塊 (MPM-213)
輸入功率范圍 --70 至 + 10 dBmA
配備模擬輸出(MPM-212)
最多可安裝5個模塊(最多可同時測量20個端口)
波長范圍 1250-1650 nm
MPM-210H 是 MPM-210 的向上兼容型號
運(yùn)用
光功率測量
IL/WDL/PDL 測量(掃頻測試系統(tǒng))